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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO|現貨

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO|現貨

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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO|現貨的詳細資料:

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Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度測量儀被廣泛用于生產現場、工業廠房和檢測室。Surtronic Duo II 可用于評估地面的安全性,也可幫助地面材料制造商控制生產過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用,并且只需很少的培訓。Surtronic Duo II  數字式表面粗糙度測量儀專門用于測量表面粗糙度,可與 HSE 滑倒評估軟件結合使用,以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測量儀的分辨率為 0.01 µm(0.4 µin),采用的粗糙度標準為 ISO 4287。

泰勒霍普森duo|surtronic DUO

表面粗糙度基礎:每個組件表面都會有一些紋理形狀因結構和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預測組件在使用過程中的行為,有必要使用表面紋理參數對表面特征進行量化。

表面紋理參數可分為三個基本類型:振幅參數-測量表面偏差的垂直特征間距參數-測量表面偏差的水平特征混合參數-間距參數和振幅參數的組合樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|,它的長度足以容納進行可靠的統計所需的數據量。對于粗糙度和波紋度分析,樣本長度等于選擇的截止長度。截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數學方法移除或減少不必要的數據以查看重點區域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個或多個樣本長度。對于原始輪廓,測定長度等于樣本長度。標準一適用時,泰勒*霍普森設備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標準所規定的程序。測量原理:通過采用耐磨的金剛石測針部件,以及精密的機動驅動裝置,確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時,高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動,然后將機械移動轉化為電子信號。電子信號將進行數字化處理并發送到微處理器,然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數。



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